Моделирование карт обратного пространства с использованием спектрально-угловых диаграмм в трехкристальной схеме рентгеновской дифракции
Аткнин И.И., Марченков Н.В., Куликов А.Г., Благов А.Е., Ковальчук М.В.

Поступила в редакцию: 3 Мая 2019

DOI: 10.31857/S0044451020010022

PDF (1611.7K)

Предложен подход к моделированию карт обратного пространства, соответствующих получаемым экспериментально с помощью метода трехкристальной рентгеновской дифрактометрии. Особенностью предложенного подхода является использование спектрально-угловых диаграмм распределения рентгеновского излучения, что позволяет визуализировать двумерную картину спектрально-углового «состава» рентгеновского пучка после взаимодействия с каждым из элементов схемы и, таким образом, обеспечить учет вклада аппаратной функции экспериментальной установки. Разработанные алгоритмы позволяют проводить расчеты для широкого класса источников излучения (от рентгеновской трубки с любым материалом анода до источника синхротронного излучения) и рентгенооптических элементов (щелей, рентгеновских зеркал монохроматоров, анализаторов). Проведено сравнение результатов моделирования и эксперимента для дисперсионной геометрии дифракции, которое подтверждает адекватность предлагаемого подхода и его применимость для моделирования картины дифракции, отвечающей реальному эксперименту в трехкристальной схеме.