Поглощение излучения с частотой, близкой к границе прозрачности неоднородной плазмы, образованной при многофотонной ионизации атомов инертного газа
Вагин К.Ю., Мамонтова Т.В., Урюпин С.А.

Поступила в редакцию: 21 Июня 2022

DOI: 10.31857/S0044451022120021

PDF (1034.4K)

Изучено поглощение излучения неоднородной плазмой, образованной при многофотонной ионизации атомов инертного газа. Рассмотрены условия, при которых частота воздействующего излучения близка к плазменной частоте в глубине плазмы, где плотность фотоэлектронов постоянна. В этих условиях из-за расширения области проникновения поля в плазму коэффициент поглощения значительно возрастает. Найдены зависимости коэффициента поглощения от эффективной частоты столкновений фотоэлектронов с нейтральными атомами и от толщины слоя, в котором плотность фотоэлектронов возрастает по линейному закону.