
ЖЭТФ, Том 110,
Вып. 3,
стр. 1032 (Сентябрь 1996)
(Английский перевод - JETP,
Vol. 83,
No. 3,
p. 570,
September 1996
)
Микроскопическая модель критического состояния для жесткого сверхпроводника
Савельев С.Е., Горбачев В.С.
Поступила в редакцию: 23 Февраля 1996
|
|