Journal of Experimental and Theoretical Physics
HOME | SEARCH | AUTHORS | HELP      
Journal Issues
Golden Pages
About This journal
Aims and Scope
Editorial Board
Manuscript Submission
Guidelines for Authors
Manuscript Status
Contacts


ZhETF, Vol. 158, No. 4, p. 706 (October 2020)
(English translation - JETP, Vol. 131, No. 4, p. 618, October 2020 available online at www.springer.com )

Эволюция ферромагнетизма пленок MnxSi1-x (x\approx 0.5), полученных лазерным синтезом на подложках сапфира c- и r-срезов, при изменении плотности энергии лазерного излучения на мишени
Паршина Л.С., Дровосеков А.Б., Новодворский О.А., Храмов О.Д., Гусев Д.С., Черебылко Е.А., Черноглазов К.Ю., Веденеев А.С., Рыльков В.В.

Received: April 28, 2020

DOI: 10.31857/S0044451020100132

PDF (1002.5K)

Методом импульсного лазерного осаждения в бескапельном режиме на подложках сапфира c- и r-срезов получены тонкие пленки MnxSi1-x (x\approx 0.5) при различных плотностях энергии лазерного излучения E на мишени. Исследованы их магнитные, электрические и рентгеноструктурные свойства в зависимости от величины E и ориентации подложки. Установлено, что при E\geq 6 \text {Дж}/\text {см}^2 высокотемпературная ферромагнитная фаза в пленках проявляется сильнее, чем при E\approx 4-5 Дж/см2, когда преобладает низкотемпературная ферромагнитная фаза и отсутствует влияние ориентации подложки сапфира. Достигнутая температура Кюри TC составила 330 К при E\approx 7.4 Дж/см2 для пленок MnxSi1-x, полученных на подложках сапфира c- и r-срезов. При этом намагниченность пленок MnxSi1-x, полученных при E\geq 6 Дж/см2 на сапфире c-среза, выше, чем на сапфире r-среза, и, наоборот, ниже, когда E\leq 5.5 \text {Дж}/\text {см}^2. В этих условиях наблюдается также изменение соотношения амплитуд диффузного сигнала в рентгеновских спектрах для пленок, выращенных на разных подложках. Такое коррелированное поведение с намагниченностью объясняется существованием нанокристаллитов \varepsilon -MnSi оптимального размера, которые, с одной стороны, обусловливают возникновение диффузного сигнала рентгеновских спектров, с другой, - определяют высокотемпературный ферромагнетизм пленок. Концентрация таких нанокристаллитов и характер распределения дефектов в пленках контролируются типом подложки и плотностью энергии на мишени.

 
Report problems