Journal of Experimental and Theoretical Physics
HOME | SEARCH | AUTHORS | HELP      
Journal Issues
Golden Pages
About This journal
Aims and Scope
Editorial Board
Manuscript Submission
Guidelines for Authors
Manuscript Status
Contacts


ZhETF, Vol. 155, No. 3, p. 440 (March 2019)
(English translation - JETP, Vol. 128, No. 3, p. 379, March 2019 available online at www.springer.com )

Влияние времяпролетной хроматической аберрации на динамику распространения импульсного электронного пучка в сверхбыстрой электронной микроскопии: новая стратегия повышения временного разрешения
Асеев С.А., Садков А.С., Миронов Б.Н., Ищенко А.А., Чекалин С.В., Рябов Е.А.

Received: August 28, 2018

DOI: 10.1134/S0044451019030064

PDF (196.6K)

Распространенная стратегия, направленная на достижение высокого временного разрешения в сверхбыстрой электронной микроскопии и дифракции, основана на использовании сильных электростатических полей в ускоряющем промежутке для формирования быстрых электронных импульсов сверхкороткой длительности. В работе исследована динамика распространения ультакоротких фотоэлектронных сгустков с учетом времяпролетной хроматической аберрации - расплывания электронных импульсов на выходе из области ускоряющего электрического поля. Представлены результаты расчета длительности фотоэлектронных импульсов с учетом кулоновского расталкивания. Согласно проведенному анализу, использование сильных электростатических полей в ускоряющем промежутке для формирования быстрых электронных импульсов сверхкороткой длительности не является необходимым условием для достижения финального высокого временного разрешения в методе сверхбыстрой электронной микроскопии. Обнаружены режимы работы ультрабыстрого просвечивающего электронного микроскопа, когда временное разрешение улучшается по мере роста времяпролетной хроматической аберрации.

 
Report problems